Pokračujeme v díle těch,
kteří byli první.

Aktuální vydání

Číslo 1/2017 vyšlo
tiskem 18. 1. 2017. V elektronické verzi na webu od 17. 2. 2017. 

Téma: Elektrotechnologie; Materiály pro elektrotechniku; Nástroje a pomůcky; Značení

Hlavní článek
Analýza dat fotovoltaického systému během zatmění Slunce
Rizikovost zapojení biometrických identifikačních systémů

Aktuality

Fakulta elektrotechnická ČVUT v Praze představí zájemcům o studium moderní techniku i její historii Fakulta elektrotechnická ČVUT v Praze pořádá v pátek 20. ledna od 8.30 hodin první…

Loňská výroba Temelína by stačila k pokrytí téměř roční spotřeby českých domácností Přesně 12,1 terawatthodin elektřiny (TWh) loni vyrobila Jaderná elektrárna Temelín. Je to…

Osmý ročník Robosoutěže Fakulty elektrotechnické ČVUT v Praze ovládli studenti Gymnázia Zlín V pátek 16. prosince se v Zengerově posluchárně Fakulty elektrotechnické ČVUT na Karlově…

Společnost ABF převzala značku projektu SVĚTLO V ARCHITEKTUŘE Specializovanou výstavu svítidel, designu a příslušenství s názvem SVĚTLO V ARCHITEKTUŘE…

Chytré lampy v Praze Do hlavního města Prahy vstoupily „chytré lampy“. Nová technologie je součástí chytrých…

Fakulta elektrotechnická ČVUT v Praze zve na finále ROBOSOUTĚŽE Zajímavá technické řešení a soutěžní napětí nabídne 16. prosince finále letošní…

Více aktualit

Měřicí technika pro kontrolu jakosti

číslo 1/2004

zprávy

Měřicí technika pro kontrolu jakosti
13. mezinárodní seminář 24. a 25. února 2004 v Plzni

Cílem semináře je seznámit jeho účastníky s moderními měřicími přístroji a měřicími metodami, používanými ve strojírenství, elektrotechnice, metalurgii, v opravárenských a dalších průmyslových organizacích při kontrole jakosti výrobků a výrobních procesů. V programu semináře budou také přednášky význačných odborníků o změnách právních metrologických norem a předpisů v souvislosti se vstupem ČR do EU, komentáře k ČSN EN ISO 9001, popř. navazujícím normám a informace o nových normách vztahujících se ke geometrických tolerancím, popř. úchylkám a drsnosti povrchu.

Seminář je spojen s rozsáhlou výstavnou měřicí kontrolní a zkušební techniky pro měření délek a navazujících veličin, negeometrických veličin, pro zkoušky materiálu, systémy pro řízení a kontrolu technologických procesů, informační systémy metrologie a řízení jakosti, pro kalibraci měřidel.

Motto výstavy: Touch The Future

Seminář je určen pro pracovníky útvarů řízení jakosti, technické kontroly a metrologie, zkušební techniky, technology, konstruktéry měřicích přípravků a vývojové pracovníky, dále učitele vysokých a středních škol příslušného zaměření.

Bližší informace o 13. mezinárodním semináři Měřicí technika pro kontrolu jakosti poskytne sekretariát ČMS (paní Ivana Vidimová):


tel./fax: 221 082 254
e-mail: cms-zk@csvts.cz
nebo přímo na adrese: Česká metrologická společnost, Novotného lávka 5, 116 68 Praha 1.

Úplná nabídka odborných akcí ČM je na internetové adresa ČMS: www.csvts.cz/cms