Pokračujeme v díle těch,
kteří byli první.

Aktuální vydání

Číslo 1/2017 vyšlo
tiskem 18. 1. 2017. V elektronické verzi na webu od 17. 2. 2017. 

Téma: Elektrotechnologie; Materiály pro elektrotechniku; Nástroje a pomůcky; Značení

Hlavní článek
Analýza dat fotovoltaického systému během zatmění Slunce
Rizikovost zapojení biometrických identifikačních systémů

Aktuality

Fakulta elektrotechnická ČVUT v Praze představí zájemcům o studium moderní techniku i její historii Fakulta elektrotechnická ČVUT v Praze pořádá v pátek 20. ledna od 8.30 hodin první…

Loňská výroba Temelína by stačila k pokrytí téměř roční spotřeby českých domácností Přesně 12,1 terawatthodin elektřiny (TWh) loni vyrobila Jaderná elektrárna Temelín. Je to…

Osmý ročník Robosoutěže Fakulty elektrotechnické ČVUT v Praze ovládli studenti Gymnázia Zlín V pátek 16. prosince se v Zengerově posluchárně Fakulty elektrotechnické ČVUT na Karlově…

Společnost ABF převzala značku projektu SVĚTLO V ARCHITEKTUŘE Specializovanou výstavu svítidel, designu a příslušenství s názvem SVĚTLO V ARCHITEKTUŘE…

Chytré lampy v Praze Do hlavního města Prahy vstoupily „chytré lampy“. Nová technologie je součástí chytrých…

Fakulta elektrotechnická ČVUT v Praze zve na finále ROBOSOUTĚŽE Zajímavá technické řešení a soutěžní napětí nabídne 16. prosince finále letošní…

Více aktualit

Konference Měřicí technika pro kontrolu jakosti

Termín: 22. a 23. března 2011
Místo: Alfa, Americká třída 17, Plzeň
 

V pořadí již 20. mezinárodní konference Měřicí tech­nika pro kontrolu jakosti je tradiční mezinárodní akcí, kterou pořádá Česká metrologická společnost každo­ročně, a to od roku 1992. Konference sdružuje dvě navazující akce, totiž přednáškovou část a rozsáhlou výstavu měřicí, kontrolní a zkušební techniky. Hlavní program je soustředěn na dny 22. a 23. března 2011. Tématy přednášek jsou zejména novinky v měřicí technice pro kontrolu geometrických (zejména délkových) a negeometrických veličin a některá další zá­važná témata, např. informační systémy v oblasti managementu me­trologie a řízení kvality, statistické metody zpracovávání měřených dat, kalibrace měřidel atd.