Pokračujeme v díle těch,
kteří byli první.

Aktuální vydání

Číslo 1/2017 vyšlo
tiskem 18. 1. 2017. V elektronické verzi na webu od 17. 2. 2017. 

Téma: Elektrotechnologie; Materiály pro elektrotechniku; Nástroje a pomůcky; Značení

Hlavní článek
Analýza dat fotovoltaického systému během zatmění Slunce
Rizikovost zapojení biometrických identifikačních systémů

Aktuality

Fakulta elektrotechnická ČVUT v Praze představí zájemcům o studium moderní techniku i její historii Fakulta elektrotechnická ČVUT v Praze pořádá v pátek 20. ledna od 8.30 hodin první…

Loňská výroba Temelína by stačila k pokrytí téměř roční spotřeby českých domácností Přesně 12,1 terawatthodin elektřiny (TWh) loni vyrobila Jaderná elektrárna Temelín. Je to…

Osmý ročník Robosoutěže Fakulty elektrotechnické ČVUT v Praze ovládli studenti Gymnázia Zlín V pátek 16. prosince se v Zengerově posluchárně Fakulty elektrotechnické ČVUT na Karlově…

Společnost ABF převzala značku projektu SVĚTLO V ARCHITEKTUŘE Specializovanou výstavu svítidel, designu a příslušenství s názvem SVĚTLO V ARCHITEKTUŘE…

Chytré lampy v Praze Do hlavního města Prahy vstoupily „chytré lampy“. Nová technologie je součástí chytrých…

Fakulta elektrotechnická ČVUT v Praze zve na finále ROBOSOUTĚŽE Zajímavá technické řešení a soutěžní napětí nabídne 16. prosince finále letošní…

Více aktualit

16. mezinárodní seminář Měřicí technika pro kontrolu jakosti

číslo 12/2006

16. mezinárodní seminář Měřicí technika pro kontrolu jakosti

Pořadatel: Česká metrologická společnost
Termín: 13. a 14. březen 2007
Místo: Dům kultury INWEST-K, Plzeň

Seminář je určen pro pracovníky útvarů řízení jakosti, technické kontroly a metrologie, metrologických laboratoří, zkušební techniky, pro technology, konstruktéry měřicích přípravků, vývojové pracovníky a učitele vysokých i středních škol příslušného zaměření.

Cílem semináře je seznámit jeho účastníky s moderními měřicími přístroji a měřicími metodami používanými ve strojírenství, elektrotechnice, metalurgii, v opravárenských a dalších průmyslových organizacích při kontrole jakosti výrobků a výrobních procesů. V programu semináře budou také přednášky význačných zahraničních i tuzemských odborníků, informace o nových normách vztahujících se ke geometrickým tolerancím, ke zkušenostem s prováděním měřicích a kontrolních operací ve velkosériové i kusové výrobě a o nových trendech v oblasti měřicí techniky.

Seminář bude spojen s rozsáhlou výstavou měřicí, kontrolní a zkušební techniky pro měření délek a navazujících veličin, negeometrických veličin, pro zkoušky materiálu, nedestruktivní defektoskopické testování, systémy pro řízení a kontrolu technologických procesů, informační systémy metrologie a řízení jakosti, pro kalibraci měřidel a další.

Bližší informace zájemci získají na:

Česká metrologická společnost
Novotného lávka 5
116 68 Praha 1
tel./fax: 221 082 254
e-mail: cms-zk@csvts.cz
http://www.csvts.cz/cms