22ELEKTRO 8-9/2012témaMSV 2012 – 54. mezinárodní strojírenský veletrhFirma Chauvin Arnoux představuje nové měřiče izolace C.A 6550 (10 kV) a C.A 6555 (15 kV)Široký měřicí rozsah od 10 kΩ do 30 TΩ, pevné nebo programovatelné napětí nastavi-telné od 40 V do 10 kV (C.A 6550) nebo do 15 kV (C.A 6555) s nabíjecím proudem 5 mA, to jsou hlavní parametry nových měřicích pří-strojů firmy Chauvin Arnoux pro měření izola-ce. Firma tak rozšířila nabídku svých přístro-jů pro měření izolací až do hodnot 15 kV a 30 TΩ (kompletní nabídka přístrojů pro měře-ní izolací je na internetových stránkách: http://www.ghvtrading.cz/merici-pristroje/revize/izolacni-odpor/). Testovací napětí je u obou typů přístrojů nastavitelné od 40 V s krokem 10 V do 1 kV a od 1 kV do 10 kV (15 kV) po 100 V. Zkoušku lze uskutečnit pevným na-pětím nebo postupně narůstajícím napětím. K dispozici jsou např. funkce RAMP test – zkouška nabíhajícím napětím s nastavitelnou počáteční a konečnou hodnotou napětí a do-bou trvání, funkce STEP – s možností nasta-vit deset kroků, pro každý krok je nastavitel-ná hodnota napětí a doba trvání, zkouška Test bez omezení (propalovací, Burn test) a testy s omezením (na výběr je omezení proudem, změnou proudu nebo délkou trvání testu). Tes-ty jsou doplněny automatickým výpočtem pa-rametrů DAR (dielektrická absorbce), PI (in-dex polarizace), DD, DElatR a ppm/V. Auto-matická detekce externího napětí do 16 kV při připojení k obvodu chrání uživatele před ne-bezpečným dotykem a přístroj před jeho mož-ným poškozením. Ve výbavě přístroje je pro-gramovatelný alarm s akustickou signalizací a časovač do 99 min. Testerem lze pro kom-plexní hodnocení izolací také měřit unikající proud v rozsahu 0 až 8 mA s rozlišením 1 μA a měřit kapacitu od 5 nF do 50 μF. Vestavěné filtry přístroje umožňující stabilizovat zobra-zení naměřených hodnot. Oba přístroje jsou vybaveny funkcí přepočtu hodnoty změřené-ho odporu na referenční teplotu pro možnost porovnání vlastností izolace při měření za růz-ných teplotních podmínek. Naměřené hodnoty lze uložit do paměti přístroje. Kapacita pamě-ti je 256 měření, 80 000 hodnot. Lze ukládat hodnoty napětí, odporu, proudu i času. K pře-nosu dat do PC se používá opticky izolované rozhraní USB a RS-232. Programové vyba-vení DataView je společné všem přístrojům firmy Chauvin Arnoux. Oba testery s jejich vlastnostmi a vybavením jsou velmi vhodné k měření izolačních stavů na rotačních stro-jích a zařízeních pracujících na vysokém napě-tí, k měření velkých hodnot izolačních odporů při malém testovacím napětí, ale jsou použi-telné i při měření na standardních elektrických instalacích. Přístroje i jejich příslušenství jsou zkonstruovány v kategorii CAT IV s krytím IP54, v uzavřeném krytu IP65. Napájeny jsou z dobíjitelného zdroje NiMH 8× 1,2 V/4 A·h. Součástí dodávky je brašna se dvěma vn mě-řicími kabely délky 3 m, zemnicí kabel o dél-ce 3 m, tři krokosvorky, dva měřicí hroty, na-pájecí kabel, programové vybavení DataView, USB kabel, brašna a návod k obsluze.Velký podsvětlený grafický displej umož-ňuje zobrazení časové závislost izolačního odporu R (t) + u (t), i (t), i (u). Tato funkce dovoluje přímo sledovat závislost hodnoty izolačního odporu na přiloženém testovacím napětí (obr. 4). Typické využití funkce zob-razení časové závislost izolačního odporu R (t) + u (t), i (t), i (u) je měření přepěťových ochran nebo nelineárních odporů se zobraze-ním voltampérové charakteristiky.Zájemci o přístroje jsou zváni do stánku fir-my GHV Trading na veletrhu ELO SYS 2012 v Trenčíně ve dnech 9. až 12. října 2012. Pro podrobnější informace lze také navštívit stránky:http://www.ghvtrading.czUcelená řada profesionálních měřicích přístrojů pro měření stavu izolaceIng. Jiří Ondřík, GHV Trading, spol. s r. o., BrnoObr. 1. Displej přístroje v režimu BURN test (propalovací zkouška) – je nastaveno testovací napětí 500 V, doba ukončení testu 10 min 8 s, průsakový proud 978 nA; dole je analogový bargraf Obr. 2. Displej v režimu BURN test s naměře-nými hodnotami DAR, DD, PI, C, IObr. 4. Displej přístroje v režimu zobrazení časové závislosti izolace na přiloženém napětíObr. 3 a), b) Displeje přístroje v grafickém reži-mu záznamu při zkouškách RAMP Test a STEPa)b)