Pokračujeme v díle těch,
kteří byli první.

Aktuální vydání

Číslo 3/2017 vyšlo
tiskem 15. 3. 2017. V elektronické verzi na webu bude ihned. 

Téma: Amper 2017 – 25. mezinárodní elektrotechnický veletrh

Hlavní článek
Problémy elektromobility

Aktuality

MSV 2017 zacílí na Průmysl 4.0, automatizaci, environmentální technologie, dopravu a logistiku Již potřetí se na MSV 2017 upře pozornost na nové trendy průmyslové výroby. Průmysl 4.0 s…

Současné možnosti elektromobility představí AMPER Motion 2017 Největší přehlídka elektromobility v ČR proběhne 21.- 24. 3. na brněnském výstavišti a…

Startuje 9. ročník největší tuzemské ekologické soutěže Odstartoval již 9. ročník největší tuzemské ekologické soutěže E.ON Energy Globe.…

V distribuční soustavě (DS) ČEZ Distribuce, a. s. je vyhlášen kalamitní stav Od 9 h dne 24.2.2017 je vyhlášen kalamitní stav v Karlovarském kraji - okres Karlovy Vary…

Veletrh Věda Výzkum Inovace 2017 zahájí místopředseda vlády Pavel Bělobrádek Letošní ročník Veletrhu Věda Výzkum Inovace zahájí na brněnském výstavišti 28. února 2017…

Chytré lampy PRE potvrdily zhoršenou smogovou situaci v Praze Chytré lampy PRE potvrdily v rámci svého pilotního provozu, že v Holešovicích a…

Více aktualit

20. mezinárodní konference Měřicí technika pro kontrolu jakosti

11.11.2010

Termín: 22. a 23. března 2011
Místo: společenské prostory Alfa, Americká třída 17, Plzeň
Odborný garant konference: Ing. Václav Bursa
Česká metrologická společnost připravuje jubilejní v pořadí již 20. mezinárodní konferenci Měřicí technika pro kontrolu jakosti, která je spojena s rozsáhlou výstavou měřicí, kontrolní a zkušební techniky. Konference je určena vedoucím pracovníkům z oblasti metrologie, řízení kvality, zkušeben a předvýrobních složek strojírenských, jakož i elektrotechnických a metalurgických podniků a automobilového průmyslu.
Cílem konference je seznámit její účastníky s moderními měřicími přístroji a měřicími metodami, používanými ve strojírenství, automobilovém průmyslu, elektrotechnice, metalurgii, v opravárenských a dalších průmyslových organizacích při kontrole kvality výrobků a výrobních procesů. V programu konference budou také workshopy vztahující se ke geometrickým tolerancím, k textuře povrchu a k souřadnicové měřicí technice. Součástí konference je rozsáhlá výstava měřicí, kontrolní a zkušební techniky pro měření délek a navazujících veličin, negeometrických veličin, jakož i pro zkoušky materiálu, systémy pro řízení a kontrolu technologických procesů, informační systémy metrologie a řízení kvality, pro kalibraci měřidel aj.
Konference je určena pro pracovníky útvarů řízení kvality, technické kontroly a metrologie, metrologických laboratoří, zkušební techniky, technology, konstruktéry měřicích přípravků a vývojové pracovníky, dále učitele vysokých a středních škol příslušného zaměření.
 
Další informace u pořadatele akce na:
Česká metrologická společnost
Ivana Vidimová
Novotného lávka 5
116 68 Praha 1
tel./fax: 221 082 254