Pokračujeme v díle těch,
kteří byli první.

Aktuální vydání

Číslo 3/2019 vyšlo
tiskem 11. 3. 2019. V elektronické verzi na webu ihned. 

Téma: Amper 2019 – 27. mezinárodní elektrotechnický veletrh

Hlavní článek
Smart Cities (8. část)

Aktuality

Největší větrná elektrárna v Česku pomohla skupině Portiva překonat rekord Energetická divize investiční skupiny Portiva loni dokázala vyrobit nejvíce elektrické…

Světlo v architektuře - 6. ročník specializované výstavy V březnu budou zářit nejen hvězdy, ale i svítidla na výstavě SVĚTLO V ARCHITEKTUŘE!

Diskuze u kulatého stolu nastínila trendy v oblasti chytrých budov Kulatý stůl uspořádaný Kanceláří Evropského parlamentu ve spolupráci s Aliancí pro…

CANDELA 2019 – 7. ročník konference o veřejném osvětlení Jsou opravdu dominantním zdrojem rušivého světla soustavy veřejného osvětlení jak…

V Praze byla představena publikace Světového energetického výhledu Pod záštitou Ministerstva průmyslu a obchodu se v Praze konala prezentace aktuálního…

Temelín investuje 1,5 miliardy a soustředí se na efektivitu provozu Přestože je Temelín nejnovější jadernou lokalitou v Evropě, bude i nadále pokračovat v…

Více aktualit

20. mezinárodní konference Měřicí technika pro kontrolu jakosti

11.11.2010

Termín: 22. a 23. března 2011
Místo: společenské prostory Alfa, Americká třída 17, Plzeň
Odborný garant konference: Ing. Václav Bursa
Česká metrologická společnost připravuje jubilejní v pořadí již 20. mezinárodní konferenci Měřicí technika pro kontrolu jakosti, která je spojena s rozsáhlou výstavou měřicí, kontrolní a zkušební techniky. Konference je určena vedoucím pracovníkům z oblasti metrologie, řízení kvality, zkušeben a předvýrobních složek strojírenských, jakož i elektrotechnických a metalurgických podniků a automobilového průmyslu.
Cílem konference je seznámit její účastníky s moderními měřicími přístroji a měřicími metodami, používanými ve strojírenství, automobilovém průmyslu, elektrotechnice, metalurgii, v opravárenských a dalších průmyslových organizacích při kontrole kvality výrobků a výrobních procesů. V programu konference budou také workshopy vztahující se ke geometrickým tolerancím, k textuře povrchu a k souřadnicové měřicí technice. Součástí konference je rozsáhlá výstava měřicí, kontrolní a zkušební techniky pro měření délek a navazujících veličin, negeometrických veličin, jakož i pro zkoušky materiálu, systémy pro řízení a kontrolu technologických procesů, informační systémy metrologie a řízení kvality, pro kalibraci měřidel aj.
Konference je určena pro pracovníky útvarů řízení kvality, technické kontroly a metrologie, metrologických laboratoří, zkušební techniky, technology, konstruktéry měřicích přípravků a vývojové pracovníky, dále učitele vysokých a středních škol příslušného zaměření.
 
Další informace u pořadatele akce na:
Česká metrologická společnost
Ivana Vidimová
Novotného lávka 5
116 68 Praha 1
tel./fax: 221 082 254